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薄膜測厚儀

簡要描述:CH-1-ST型薄膜測厚儀:
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。
本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。

  • 產品型號:CH-1-S
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-11-09
  • 訪  問  量:1314

CH-1-S薄膜測厚儀的詳細資料:

CH-1-ST型薄膜測厚儀:
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。
本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。

技術參數(shù):◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上測頭曲率半徑:15-50mm 
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎執(zhí)行標準:GB6672-86 
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).

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